泛半导体制程应用光学技术论坛(已结束)
7th March, 2024 10:30-12:30
Technical Theatre , B2
主办机构
Informa Markets
APE亚洲光电博览会
合作主办
复旦大学 上海超精密光学制造工程技术研究中心
香港应用科技研究院
会议简介
随着科学技术发展,大数据、云计算、物联网、人工智能、消费电子等多个应用领域都对芯片性能各方面提出了更高的要求,这推动了制程微缩和三维结构的升级,使得工艺步骤大幅提升。因此,为了满足这些不断增长的需求,半导体工艺和技术水平也在不断提高。与此同时,光学技术在泛半导体制程领域的应用正在逐步扩大,有望为半导体制造业带来更高的生产效率和更优秀的产品质量。
在此背景下,深UV (DUV)和极UV (EUV)光刻技术成为行业内备受瞩目的话题。这些先进的光学技术不仅在光刻加工中发挥着重要作用,还涉及到许多其他光学应用领域。例如,临界尺寸(CD)测量、工艺叠加测量、掩模检测、工艺传感等,未来,我们期待更多的光学技术能够进一步拓展半导体制造的边界,为行业带来更多的创新和变革。
2024年3月7日,“泛半导体制程应用光学技术论坛” 将特邀半导体光学领域知名企业与专家学者从市场、技术、应用等方面分享多场专题报告,深入探讨先进光刻工艺与设备发展、薄膜沉积设备发展、先进封装技术、半导体制程与晶圆检测等相关话题,谱写光学与半导体协同发展新篇章。
大会议程
泛半导体制程应用光学技术论坛 | ||
时间 | 演讲题目 | 演讲嘉宾 |
嘉宾主持:徐敏 复旦大学 教授 | ||
10:30-10:35 |
会议开场 |
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10:35-10:55 |
平面透镜用于亚衍射极限聚焦、成像和光刻 | 滕京华 新加坡科学技术研究局(A*STAR)材料研究与工程研究所 资深首席科学家 |
10:55-11:15 |
用于半导体计量的高亮度宽带激光驱动光源 | Renaud Richard, Senior Scientist, Energetiq Technology Inc. |
11:15-11:35 |
芯片制造中的光学测量 | 徐敏 复旦大学 教授 |
11:35-11:55 |
Innovative Positioning Technology for Semiconductor Manufacturing and Wafer Inspection | Amornrit (Nat) Jermwiwat, Sales Manager, Southeast Asia, PI (Physik Instrumente) Southeast Asia. |
11:55-12:15 |
半导体检测的进展:探索3D 封装检测和基于人工智能的质量评估 | 黄嘉瑶博士 香港应用科技研究院物联网感测与人工智能技术部 高级经理 |
*议程请以现场实际为准
嘉宾介绍
滕京华
资深首席科学家
新加坡科学技术研究局(A*STAR)材料研究与工程研究所
Renaud Richard
Senior Scientist of Energetiq Technology Inc.
徐敏
教授
复旦大学
Amornrit (Nat) Jermwiwat
Sales Manager, Southeast Asia, PI (Physik Instrumente) Southeast Asia.
黄嘉瑶博士
高级经理
香港应用科技研究院物联网感测与人工智能技术部
*以上排名不分先后